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三箱高低溫沖擊試驗箱

型 號BS-252IC

所屬分類高低溫沖擊試驗箱

報價

發(fā)布時間2024-04-26

產(chǎn)品描述:三箱高低溫沖擊試驗箱生產(chǎn)廠家適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、車輛、金屬、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件、電線、電纜等在高低溫快速交變環(huán)境下,確定組件、設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力

產(chǎn)品概述

三箱高低溫沖擊試驗箱技術(shù)參數(shù):

型號

BS-252IC

試樣限制

本試驗設(shè)備禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗;儲存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗、儲存生物的試驗、儲存強電磁發(fā)射源試樣的試驗及儲存

容積、重量和尺寸

標稱內(nèi)容積

252 L

內(nèi)箱有效尺寸

700×600×600   W×H×D(mm)

外形空間

約1650×2043×2225   W×H×D(mm)

重量

1900㎏

噪音

75db以內(nèi)(離機臺正面1米并離地面1.2米處測量)

三箱高低溫沖擊試驗箱執(zhí)行標準:

1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗

第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則

3. GJB360B-2009溫度沖擊試驗

4. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗A:低溫

5.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫

6.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件

7.GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件

 

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